信息介绍
光谱分析仪AE8600是一种用于光纤信号光谱分析的衍射光栅光谱分析仪,工作于600至1700nm波长范围内,分辨率可达20pm,测量功率+20dBm,功率灵敏度低至-90dBm。
AE8600丰富的专业APP应用,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率和漂移测试。AE8600优越的稳定性和可靠性,极快速的光谱扫描速度,开放的数据输出,可帮助您**应对来自光谱测试的各种挑战。
光谱分析仪AE8600丰富的专业APP应用,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率 和漂移测试。AE8600优越的稳定性和可靠性,极快速的光谱扫描速度,开放的数据输出,可帮助您**应对来自光谱测试的各种挑战。
● 光谱范围 600nm-1700nm,适用于单模和多模光纤输入;
● 7 种波长分辨率设置 20pm~2nm,使用户可以根据测试需求选
择值;
● 低至 -90dBm 的灵敏度设置;
● 73dB 超大动态范围,能够有效分离相近的光谱信号,执行精确
测量;
● ±0.02nm 高波长精度,内置校准功能和波长参考源;
● 高杂散光抑制率,单色镜设计可以提供出色的杂散光抑制能力;
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择,满足从现场到工厂的
各种应用;
● 无需预热,开机即可测量;
● 10.1 寸超大触屏操作,更好的客户体验;
● 齐全的用户数据接口,支持以太网、USB、SD 等;
● 根据客户需求建设自动化检测与测试系统。
光谱分析仪AE8600系列主要技术指标:
AE8600丰富的专业APP应用,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率和漂移测试。AE8600优越的稳定性和可靠性,极快速的光谱扫描速度,开放的数据输出,可帮助您**应对来自光谱测试的各种挑战。
光谱分析仪AE8600丰富的专业APP应用,可用于半导体激光器(DFB、FP)光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率 和漂移测试。AE8600优越的稳定性和可靠性,极快速的光谱扫描速度,开放的数据输出,可帮助您**应对来自光谱测试的各种挑战。
● 光谱范围 600nm-1700nm,适用于单模和多模光纤输入;
● 7 种波长分辨率设置 20pm~2nm,使用户可以根据测试需求选
择值;
● 低至 -90dBm 的灵敏度设置;
● 73dB 超大动态范围,能够有效分离相近的光谱信号,执行精确
测量;
● ±0.02nm 高波长精度,内置校准功能和波长参考源;
● 高杂散光抑制率,单色镜设计可以提供出色的杂散光抑制能力;
● WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择,满足从现场到工厂的
各种应用;
● 无需预热,开机即可测量;
● 10.1 寸超大触屏操作,更好的客户体验;
● 齐全的用户数据接口,支持以太网、USB、SD 等;
● 根据客户需求建设自动化检测与测试系统。
光谱分析仪AE8600系列主要技术指标:
联系方式
0395-3326598
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